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在線粒度儀作為一種粒度分析工具,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)和優(yōu)化顆粒尺寸分布,廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域。它的高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性使得粒度分析變得更準(zhǔn)確和可靠。它通過(guò)光學(xué)或聲學(xué)原理,將物料中的顆粒進(jìn)行非接觸式檢測(cè),并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果生成粒度分布曲線。通常具有高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性的特點(diǎn),可以...
激光粒度儀作為一種粒度測(cè)試儀器,已經(jīng)在其它粉體加工與應(yīng)用領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。它的特點(diǎn)是測(cè)試速度快、重復(fù)性好、性好、操作簡(jiǎn)便。廣泛用于粉末冶金、薄膜、膜片料、催化劑、絕緣材料、潤(rùn)滑油、超導(dǎo)體、無(wú)線電技術(shù)等行業(yè),涉及化學(xué)、制藥、食品、建材等工業(yè)領(lǐng)域并發(fā)揮著越來(lái)越大的作用。應(yīng)用行業(yè):1、藥品、新型材料粉體粒度測(cè)量包括:石墨、重鈣、滑石粉、高嶺土、氧化鋁、涂料等。2、非金屬礦粉粒度測(cè)量包括:輕鈣、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤(rùn)土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、...
納米粒度電位儀是一種用于測(cè)量納米顆粒表面電位的儀器。納米顆粒的表面電位是指顆粒表面帶電的程度,是影響顆粒穩(wěn)定性和相互作用的重要因素。納米粒度電位儀通過(guò)測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度和方向,來(lái)計(jì)算顆粒表面電位的大小和符號(hào),從而了解顆粒的穩(wěn)定性和相互作用機(jī)制。其測(cè)量原理是利用電場(chǎng)力對(duì)帶電顆粒進(jìn)行移動(dòng),同時(shí)通過(guò)光學(xué)系統(tǒng)觀察顆粒的運(yùn)動(dòng)軌跡,從而測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的移動(dòng)速度和方向。根據(jù)電場(chǎng)力的大小和方向,可以計(jì)算出顆粒表面電位的大小和符號(hào)。具有高靈敏度、高分辨率和高準(zhǔn)確性的特點(diǎn),可以測(cè)量納米...
本文摘要快速準(zhǔn)確的分析燒結(jié)礦的物相組成和化學(xué)成分對(duì)鋼鐵工業(yè)不斷提高的質(zhì)量要求和節(jié)能減排來(lái)說(shuō)是至關(guān)重要的。本文通過(guò)實(shí)驗(yàn)展示了Aeris金屬版X射線衍射儀快速分析燒結(jié)礦生產(chǎn)過(guò)程中的工藝相關(guān)參數(shù)以及獲得的典型結(jié)果。01丨背景介紹燒結(jié)礦是鋼鐵工業(yè)的重要原料。由于質(zhì)量要求的提高以及降低能耗和減少碳排放的需要,快速準(zhǔn)確地分析燒結(jié)礦的物相組成和化學(xué)成分是非常重要的。每噸鐵礦石燒結(jié)礦的燃料消耗約為60千克焦炭。由于過(guò)程控制的改進(jìn),減少燃料的使用可以顯著節(jié)約能源和成本。X射線衍射(XRD)是分...
本文摘要在抗體制劑中作為填充劑的甘露醇,可以為凍干粉餅賦形,防止坍塌。但由于其結(jié)晶類型的不同,多種形態(tài)的甘露醇對(duì)穩(wěn)固凍干蛋糕結(jié)構(gòu)的作用都不相同,進(jìn)而影響最終藥物制劑的穩(wěn)定性。本文結(jié)合具體案例,介紹利用馬爾文帕納科Empyrean銳影X射線粉末衍射儀,在XRPD變溫室中模擬凍干的過(guò)程,幫助篩選最佳的凍干條件。01丨背景介紹甘露醇通常用作抗體制劑中的填充劑,可以為凍干粉餅賦形,防止坍塌。甘露醇其結(jié)晶類型有α-、β-、δ-甘露醇、半水合甘露醇和無(wú)定形甘露醇。結(jié)晶甘露醇有助于形成更穩(wěn)...
納米顆粒跟蹤分析儀是一種能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)納米顆粒動(dòng)態(tài)行為的儀器。該技術(shù)被廣泛應(yīng)用于納米材料研究、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域。原理是利用激光束照射樣品,觀察樣品中納米顆粒的布朗運(yùn)動(dòng),并通過(guò)圖像處理技術(shù)對(duì)顆粒的位置進(jìn)行跟蹤。通過(guò)采集大量顆粒的位置信息,可以得到顆粒的大小、濃度、形狀等信息。使用納米顆粒跟蹤分析儀的操作流程通常包括樣品制備、儀器預(yù)熱、樣品注入、數(shù)據(jù)采集等步驟。樣品制備的要求較高,需要避免樣品中存在大顆粒和異物干擾。在數(shù)據(jù)采集后,可通過(guò)分析軟件對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,如計(jì)算平均直徑...