納米粒度電位儀是一種用于測量納米顆粒表面電位的儀器。納米顆粒的表面電位是指顆粒表面帶電的程度，是影響顆粒穩(wěn)定性和相互作用的重要因素。納米粒度電位儀通過測量顆粒在電場中的運動速度和方向，來計算顆粒表面電位的大小和符號，從而了解顆粒的穩(wěn)定性和相互作用機制。基于電動力學原理進行測量。當納米顆粒懸浮在液體中時，其表面帶有電荷。通過測量納米顆粒在電場中的運動速度來推斷其尺寸。較大的顆粒由于慣性效應而具有較快的運動速度，而較小的顆粒由于受到溶劑分子的碰撞而具有較慢的運動速度。通過分析納米...

X射線熒光光譜儀是一種基于X射線熒光原理的分析儀器，其核心在于利用初級X射線激發(fā)樣品中的原子，使其內(nèi)層電子躍遷至高能級，當電子返回低能級時，釋放出的能量以X射線的形式釋放，即熒光。通過對這些熒光的能量和強度進行分析，可以確定樣品中的元素種類及其含量。應用領域廣泛：X射線熒光光譜儀在多個領域都有著廣泛的應用。在地質勘探中，它可以快速分析巖石和礦石中的元素組成；在環(huán)保領域，用于監(jiān)測土壤和水體中的重金屬含量；在工業(yè)生產(chǎn)中，它可用于質量控制和產(chǎn)品檢測。此外，X射線熒光光譜儀還在考古、...

X射線衍射儀是一種基于X射線與物質相互作用的儀器，通過衍射現(xiàn)象揭示物質的晶體結構和晶體學信息。它廣泛應用于材料科學、晶體學、結構分析和固體物理學等領域。其原理基于X射線與物質的相互作用。當X射線通過晶體或非晶體材料時，會發(fā)生衍射現(xiàn)象，即X射線的波動性導致它們在材料中被散射和干涉。X射線衍射儀利用探測器記錄衍射X射線的強度和角度信息，并通過衍射圖樣的分析，推斷出物質的晶體結構和晶體學參數(shù)。在操作X射線衍射儀時，需要留意以下細節(jié)以確保準確性和安全性：1、安全操作：使用時，必須遵守...

顆粒物是一種常見的物質形態(tài)，其粒徑分布對于許多領域的研究和應用具有重要意義。激光粒度分布儀是一種基于激光散射原理的儀器，能夠快速、準確地測量顆粒物的粒徑分布。激光粒度分布儀是一種常用于顆粒物分析的儀器，通過激光散射原理實現(xiàn)對顆粒物粒徑分布的測量。是通過激光束照射顆粒物樣品，測量散射光的強度和角度分布，從而推斷顆粒物的粒徑分布。根據(jù)散射光的強度和角度，可以利用光學原理和數(shù)學模型計算出顆粒物的粒徑大小和分布情況。激光粒度分布儀其結構特點主要包括以下幾個方面：1、激光發(fā)生器：使用激...

X射線衍射儀是一種基于X射線與物質相互作用的儀器，通過衍射現(xiàn)象揭示物質的晶體結構和晶體學信息。它廣泛應用于材料科學、晶體學、結構分析和固體物理學等領域。其原理基于X射線與物質的相互作用。當X射線通過晶體或非晶體材料時，會發(fā)生衍射現(xiàn)象，即X射線的波動性導致它們在材料中被散射和干涉。X射線衍射儀利用探測器記錄衍射X射線的強度和角度信息，并通過衍射圖樣的分析，推斷出物質的晶體結構和晶體學參數(shù)。X射線衍射儀的主要應用范圍：1、材料表征和分析：可用于對材料的結構、相組成和晶體結構進行表...